◆掃描探針顯微鏡 ◆掃描電子顯微鏡
◆掃描近場光學顯微鏡/NSOM ◆控制雷射顯微鏡
◆干涉測量 ◆計量學/輪廓測量
◆納米刻痕 ◆納米微影術
◆超薄膜應用 ◆分析天平
◆生物- 物理測量
◇細胞微感染 ◇細胞操作 ◇單分子調查
◇膜片鉗 ◇體外受精技術
主動隔振工作站-1TS-140W -簡介:
主動隔振工作站由符合人體工程學的剛性框架、防護扶手組成,並提供三種改進的主動隔振系統: ◆ 1TS-140實心面積 ◆ 1TS-140B 蜂窩模型板 1HB05-06-025-001 ◆ 1TS-140B-AL 鋁模型板 1B-AL-50-60-015
控制面板內置在框架中,可以舒適地工作。這個系統使用起來極其方便。接通電源時自動進行負載補償。如果在系統隔離時改變負載,產品會自動重新調整,然後返回隔離模式。該工作站的設計針對 AFM、雷射掃描顯微鏡、SNOM、輪廓儀、納米壓痕技術等精密儀器進行了優化。 根據要求可以客製化工作檯面為400X500毫米(最大負載150公斤)和 600 x 800 毫米(最大負載 120 公斤)。對於更大的面積,請參閱主動隔振系統1TS-AVI200S/LP。 |